優(yōu)尼康科技提供薄膜材料開發(fā)全流程測量方案：膜厚儀(F20/F50)、橢偏儀(FS-8/Uvisel Plus)、光學(xué)輪廓儀(Profilm3D)、納米壓痕儀(G200X/iMicro)、臺階儀、XRF分析儀等。覆蓋薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n/k)、表面粗糙度、微納力學(xué)性能、成分分析等關(guān)鍵參數(shù)，是大學(xué)實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)薄膜材料研發(fā)的理想選擇。
優(yōu)尼康科技提供精密測量環(huán)境保障方案：主動減振臺、被動減振臺、消磁器等。用于光學(xué)輪廓儀、膜厚儀、橢偏儀、納米壓痕儀等高精度設(shè)備，隔離環(huán)境振動與雜散磁場干擾，保障測量精度與重復(fù)性，適用于半導(dǎo)體、光學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域的超精密測量實(shí)驗(yàn)室。
優(yōu)尼康科技提供材料力學(xué)與摩擦學(xué)全流程測量方案：納米壓痕儀(G200X/iMicro)、光學(xué)輪廓儀(Profilm3D)、臺階儀等。覆蓋硬度/彈性模量、斷裂韌性、蠕變/松弛、涂層結(jié)合力、摩擦系數(shù)、磨損率、劃痕硬度、磨損體積等關(guān)鍵參數(shù)，助力涂層、薄膜、塊體材料、MEMS、醫(yī)療器械等領(lǐng)域的研究與質(zhì)控。
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