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優(yōu)尼康專注 SiC、GaN 等寬禁帶半導(dǎo)體測量,提供 F54-XY 膜厚儀、R54 電阻率儀、Uvisel Plus 橢偏儀等設(shè)備,解決外延生長與工藝監(jiān)控難題。
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