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Filmetrics F50助力高密度玻璃硬盤盤片薄膜檢測
優(yōu)尼康科技將Filmetrics F50光學(xué)膜厚儀與自動(dòng)缺陷掃描系統(tǒng)集成，成功應(yīng)用于玻璃硬盤盤片的多層薄膜厚度與表面缺陷檢測，為HAMR等下一代高密度硬盤提供精準(zhǔn)質(zhì)控方案。
2026-05-29 優(yōu)尼康查看詳情
優(yōu)尼康科技將Filmetrics F50光學(xué)膜厚儀與自動(dòng)缺陷掃描系統(tǒng)集成，成功應(yīng)用于玻璃硬盤盤片的多層薄膜厚度與表面缺陷檢測，為HAMR等下一代高密度硬盤提供精準(zhǔn)質(zhì)控方案。
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