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    鋰電池

    2026-06-02 11:39:57 優(yōu)尼康
    鋰電池測量方案 | 電極涂布厚度·極片形貌·隔膜孔隙 | 優(yōu)尼康科技
    鋰電池全流程測量方案

    電極涂布 · 極片形貌 · 隔膜孔隙 · 極片電阻

    膜厚儀 · 光學(xué)輪廓儀 · 納米壓痕儀 · 臺(tái)階儀 · 電阻率儀

    針對(duì)鋰電池正負(fù)極涂布、輥壓、分切、隔膜等工藝,提供涂布厚度與均勻性、極片表面粗糙度、隔膜孔隙結(jié)構(gòu)、極片硬度/模量、極片電阻率及極耳焊接臺(tái)階的無損、快速測量方案。

    涂布厚度/均勻性 F20/F50膜厚儀秒級(jí)測量正負(fù)極涂層厚度,支持全幅面Mapping
    極片/隔膜表面形貌 Profilm3D光學(xué)輪廓儀非接觸分析粗糙度、孔隙、裂紋
    極片硬度/模量 納米壓痕儀評(píng)估活性材料涂層與集流體的力學(xué)性能
    極片電阻率 R50/R54電阻率儀快速測量極片方塊電阻,評(píng)估導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)

    鋰電池制造中的測量痛點(diǎn)與需求

    涂布均勻性、極片裂紋、隔膜孔隙、極片電阻 — 直接影響電池容量、內(nèi)阻與安全

    !

    涂布厚度均勻性控制

    正負(fù)極涂層厚度偏差會(huì)導(dǎo)致容量不一致、析鋰風(fēng)險(xiǎn)。傳統(tǒng)β射線或X射線測厚儀成本高、有輻射,且無法獲得面內(nèi)精細(xì)分布。

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    極片表面裂紋與團(tuán)聚檢測

    輥壓后涂層表面裂紋、活性材料團(tuán)聚會(huì)導(dǎo)致局部阻抗增大,加速電池衰減。光學(xué)顯微鏡僅能看平面,無法量化深度和體積。

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    隔膜孔徑與孔隙率評(píng)價(jià)

    隔膜微孔尺寸、分布和孔隙率直接影響離子電導(dǎo)率和安全性。掃描電鏡成本高、制樣復(fù)雜,無法快速批量檢測。

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    極片硬度與涂層結(jié)合力

    涂層硬度不足易掉粉,硬度過高則柔韌性差;涂層與集流體結(jié)合力弱導(dǎo)致充放電循環(huán)后脫落。傳統(tǒng)鉛筆硬度法主觀性強(qiáng)。

    H

    極片電阻率與導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)

    極片電阻率過高會(huì)增加內(nèi)阻,影響倍率性能。四探針法測試時(shí)探頭壓力可能損傷涂層,需要精準(zhǔn)控壓。

    W

    極耳焊接臺(tái)階與毛刺

    極耳焊接后的殘余臺(tái)階高度和毛刺可能刺穿隔膜,造成短路。傳統(tǒng)卡尺無法測量微米級(jí)臺(tái)階和邊緣輪廓。

    優(yōu)尼康科技鋰電池測量方案 集成膜厚儀、光學(xué)輪廓儀、納米壓痕儀、電阻率儀等設(shè)備,覆蓋從漿料涂布、輥壓、分切到極耳焊接的全過程,幫助電池制造商提升一致性、降低內(nèi)阻、保障安全。

    核心產(chǎn)品矩陣 — 鋰電池專用測量設(shè)備

    針對(duì)涂布、極片、隔膜、極耳的快速無損解決方案

    膜厚儀系列

    光譜反射 F20 / F50 / F54-XY
    毫秒級(jí)測量正負(fù)極涂層厚度(可測石墨、LFP、NCM等),支持卷材在線或離線Mapping,評(píng)估涂布均勻性。

    膜厚儀選型 →

    光學(xué)輪廓儀 Profilm3D

    非接觸3D形貌 白光干涉/共聚焦雙模式,垂直分辨率0.1nm。用于極片表面粗糙度(Ra/Rz)、裂紋深度/寬度、隔膜孔隙率、極耳毛刺高度、輥壓波紋度分析。

    了解Profilm3D →

    納米壓痕儀

    微納力學(xué) G200X / iMicro
    測量涂層硬度、彈性模量、涂層與集流體結(jié)合強(qiáng)度,以及隔膜的穿刺模量。超低載荷適用于多孔涂層,避免基底效應(yīng)。

    納米壓痕方案 →

    電阻率儀

    四探針法 R50/R54
    測量極片(涂層/集流體)方塊電阻及體積電阻率,評(píng)估導(dǎo)電劑分散效果和涂層均勻性。壓力可調(diào),避免損傷涂層。

    電阻率儀詳情 →

    臺(tái)階儀

    低接觸力探針,用于極耳焊接臺(tái)階高度測量、涂層厚度基準(zhǔn)校準(zhǔn)、隔膜厚度驗(yàn)證。

    臺(tái)階儀詳情 →

    以上設(shè)備支持卷對(duì)卷、單片電池極片、隔膜等多種樣品形式,可定制自動(dòng)化測量方案。鋰電池涂布厚度測量、極片表面粗糙度檢測、隔膜孔隙率分析、極片納米壓痕硬度、極片電阻率測試、極耳焊接臺(tái)階高度、NCM電極涂層均勻性

    鋰電池測量技術(shù)原理對(duì)比

    測量技術(shù)代表設(shè)備原理鋰電池核心應(yīng)用核心優(yōu)勢(shì)
    光譜反射膜厚儀F20/F50/F54反射光譜干涉擬合涂層厚度,適用于石墨、氧化物等不透明/半透明材料正負(fù)極涂層厚度、涂布首尾/邊緣厚度差、面密度相關(guān)毫秒級(jí) 無損 大面積Mapping
    白光干涉輪廓儀Profilm3D低相干光干涉獲得三維形貌,可測多孔、低反射表面極片裂紋/針孔定量、隔膜孔徑/孔隙率、輥壓波紋度、極耳毛刺亞納米垂直分辨率 無接觸 大視野拼接
    納米壓痕G200X/iMicro連續(xù)載荷-位移曲線,計(jì)算硬度/模量涂層硬度/彈性模量、涂層-集流體結(jié)合強(qiáng)度、隔膜穿刺模量微區(qū)定位 超低載荷 避免基底干擾
    四探針電阻率R50/R54恒流源+四點(diǎn)探針測量方塊電阻,自動(dòng)壓力補(bǔ)償極片電阻率(評(píng)估導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò))、涂層均勻性、老化對(duì)比快速 可調(diào)壓力 非破壞
    低力臺(tái)階儀臺(tái)階儀系列超低接觸力探針掃描輪廓極耳焊接臺(tái)階高度、涂層厚度校準(zhǔn)、隔膜厚度直接可溯源 大范圍量程

    鋰電池制造與檢測應(yīng)用實(shí)例

    正極涂布工藝

    NCM電極涂層厚度與均勻性Mapping

    需求:涂布厚度80±2μm,首尾厚度偏差<1.5%
    方案:F50膜厚儀 全幅面掃描,生成厚度分布云圖
    結(jié)果:厚度偏差±1.3μm,首尾偏差0.9%,容量一致性提升6%
    負(fù)極輥壓后裂紋檢測

    石墨涂層表面微裂紋三維定量

    需求:檢出寬度>2μm、深度>1μm的裂紋,裂紋密度<0.5/cm2
    方案:Profilm3D 自動(dòng)識(shí)別裂紋,輸出長度、寬度、深度及面積占比
    結(jié)果:檢出率98%,裂紋密度0.3/cm2,優(yōu)化輥壓壓力后缺陷消除
    隔膜孔隙率評(píng)估

    PP/PE隔膜孔徑分布與孔隙率

    需求:平均孔徑0.05~0.2μm,孔隙率40±3%
    方案:Profilm3D 共聚焦高倍成像,自動(dòng)統(tǒng)計(jì)孔徑分布及開孔面積比
    結(jié)果:平均孔徑0.12μm,孔隙率41.5%,離子電導(dǎo)率達(dá)標(biāo)
    極片電阻率

    磷酸鐵鋰極片導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)評(píng)價(jià)

    需求:極片電阻率<50Ω·cm,批次間Cpk>1.33
    方案:R50電阻率儀 多點(diǎn)測試,自動(dòng)計(jì)算平均值與標(biāo)準(zhǔn)差
    結(jié)果:電阻率平均48Ω·cm,Cpk=1.45,導(dǎo)電劑分散均勻性改善

    相關(guān)產(chǎn)品快速導(dǎo)航

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    常見問題

    膜厚儀能否測量負(fù)極石墨涂層的厚度?
    可以。F20/F50膜厚儀采用光譜反射技術(shù),對(duì)于石墨等吸光性材料,通過選擇合適的反射模型和算法,依然能夠獲得可靠的涂層厚度。實(shí)際測試中,建議使用未涂覆的銅箔作為基底參考,厚度測量范圍5~200μm,與金相法對(duì)比偏差<±1μm。
    如何檢測極片涂層表面的微裂紋?
    使用Profilm3D光學(xué)輪廓儀的白光干涉模式,一次掃描可獲取涂層表面三維形貌。軟件提供裂紋分析模塊:可自動(dòng)識(shí)別并測量裂紋的長度、寬度、深度及密度。相比SEM,無需制樣、快速、成本低,且能獲得深度數(shù)據(jù)。
    納米壓痕儀如何測量涂層與集流體的結(jié)合強(qiáng)度?
    G200X 配備劃痕測試模塊,通過恒定或線性增加的法向載荷,在涂層表面劃出一條漸變劃痕,同時(shí)監(jiān)測聲發(fā)射和摩擦力信號(hào)。臨界載荷(Lc1、Lc2)對(duì)應(yīng)涂層開始剝落或完全剝離的點(diǎn),可定量評(píng)價(jià)結(jié)合強(qiáng)度。測試適合多孔涂層,無需特殊制樣。
    隔膜的孔徑和孔隙率能否用光學(xué)輪廓儀測量?
    可以。對(duì)于孔徑>0.2μm的隔膜,Profilm3D 的共聚焦模式可直接成像并統(tǒng)計(jì)孔徑分布,通過二值化算法計(jì)算開孔面積與總面積比值得到孔隙率。對(duì)于亞微米以下孔徑,建議配合掃描電鏡或壓汞法,但光學(xué)輪廓儀仍可用于快速工藝一致性對(duì)比。
    能否提供鋰電池極片/隔膜的免費(fèi)測試?
    支持。您可以將未輥壓/已輥壓的極片、隔膜樣品寄送至優(yōu)尼康實(shí)驗(yàn)室,我們將使用膜厚儀、光學(xué)輪廓儀、納米壓痕儀和電阻率儀出具完整的測量報(bào)告,并幫助分析涂布均勻性、裂紋風(fēng)險(xiǎn)、導(dǎo)電性能等問題。

    從涂布厚度到極片電阻,優(yōu)尼康提供鋰電池全流程測量方案 —— 立即申請(qǐng)樣品測試。

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    精密薄膜測量專家

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