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    Filmetrics F60-t 自動(dòng)光反射膜厚儀

    Filmetrics F60-t自動(dòng)光反射膜厚儀,專為生產(chǎn)環(huán)境設(shè)計(jì),自動(dòng)凹槽定位,封閉式測(cè)量載物臺(tái),SECS/GEM工廠自動(dòng)化協(xié)議,可升級(jí)全自動(dòng)晶圓傳輸。波長(zhǎng)范圍190-1700nm,精度0.02nm,測(cè)量范圍5nm-3mm。適用于半導(dǎo)體晶圓制造、LCD/OLED顯示面板產(chǎn)線、光學(xué)鍍膜量產(chǎn)、晶圓背面減薄等產(chǎn)線膜厚檢測(cè)場(chǎng)景。提供免費(fèi)樣品測(cè)試。

    • 產(chǎn)品名稱 自動(dòng)光反射膜厚儀
    • 品牌 Filmetrics
    • 產(chǎn)品型號(hào) F60
    • 產(chǎn)地 美國(guó)

    Filmetrics F60-t 自動(dòng)光反射膜厚儀

    專為產(chǎn)線環(huán)境設(shè)計(jì)的全自動(dòng)薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)——凹槽自動(dòng)檢測(cè)、封閉式測(cè)量、SECS/GEM工廠自動(dòng)化




    Filmetrics F60-t自動(dòng)光反射膜厚儀工作狀態(tài)

    5nm~3mm
    厚度測(cè)量范圍(視配置)
    0.02nm
    測(cè)量精度
    190~1700nm
    波長(zhǎng)范圍(視配置)
    150μm
    最小測(cè)量光斑

    產(chǎn)品介紹

    Filmetrics F60-t 自動(dòng)光反射膜厚儀是一款專為生產(chǎn)環(huán)境設(shè)計(jì)的全自動(dòng)薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)。它在F50系列成熟的膜厚Mapping技術(shù)基礎(chǔ)上,增加了一系列專門面向產(chǎn)線的關(guān)鍵功能:自動(dòng)凹槽定位(Notch Finding)可自動(dòng)識(shí)別晶圓方向并精確定位測(cè)量起始點(diǎn);內(nèi)置自動(dòng)基線校準(zhǔn)確保每次測(cè)量前系統(tǒng)處于最佳狀態(tài);帶運(yùn)動(dòng)聯(lián)鎖的封閉式測(cè)量載物臺(tái)提供安全防護(hù)并減少環(huán)境光干擾;預(yù)裝軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)開機(jī)即用,無需額外安裝調(diào)試。此外,F(xiàn)60-t可升級(jí)至全自動(dòng)晶圓傳輸系統(tǒng),并支持SECS/GEM工廠自動(dòng)化軟件協(xié)議,可直接與產(chǎn)線制造執(zhí)行系統(tǒng)(MES)對(duì)接,真正融入半導(dǎo)體工廠的自動(dòng)化生產(chǎn)流程。

    F60-t采用與F50相同的先進(jìn)光譜反射技術(shù),通過電動(dòng)R-Theta載物臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)至預(yù)設(shè)測(cè)量點(diǎn)位,數(shù)秒內(nèi)即可完成薄膜厚度和折射率(n和k值)的精確測(cè)繪。設(shè)備標(biāo)配4英寸、6英寸和200mm參考晶圓及TS-SiO2-4-7200厚度標(biāo)準(zhǔn)片,便于日常校準(zhǔn)驗(yàn)證。每套系統(tǒng)內(nèi)置超過500種材料的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫,并配有內(nèi)置在線診斷功能,確保產(chǎn)線設(shè)備的高可用性和低維護(hù)成本。

    產(chǎn)線專用
    F60-t 是Filmetrics系列中專為生產(chǎn)環(huán)境打造的旗艦型號(hào)。它在F50成熟的光學(xué)膜厚測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)上,增加了凹槽自動(dòng)檢測(cè)、自動(dòng)基線校準(zhǔn)、全封閉測(cè)量平臺(tái)和SECS/GEM工廠自動(dòng)化協(xié)議,可無縫集成至半導(dǎo)體工廠的自動(dòng)化產(chǎn)線中。不同型號(hào)根據(jù)波長(zhǎng)范圍加以區(qū)分,短波長(zhǎng)適用于較薄薄膜,長(zhǎng)波長(zhǎng)適用于更厚、更粗糙、透光性更差的薄膜。

    為什么選擇F60-t?—— 六大產(chǎn)線級(jí)核心優(yōu)勢(shì)

    • 【自動(dòng)凹槽定位 · 一鍵啟動(dòng)】F60-t具備自動(dòng)凹槽檢測(cè)功能,可自動(dòng)識(shí)別晶圓缺口方向并以此為參考確定所有測(cè)量點(diǎn)位,無需人工對(duì)準(zhǔn)。這一功能使晶圓裝載后的測(cè)量流程完全自動(dòng)化,大幅減少人為操作誤差,是真正意義上的全自動(dòng)晶圓膜厚測(cè)量設(shè)備。

    • 【自動(dòng)基線校準(zhǔn) · 持續(xù)精準(zhǔn)】內(nèi)置反射率標(biāo)準(zhǔn)片和自動(dòng)基線校準(zhǔn)功能,系統(tǒng)可在每次測(cè)量前自動(dòng)進(jìn)行光譜基線校正,確保長(zhǎng)期連續(xù)運(yùn)行時(shí)的測(cè)量一致性和數(shù)據(jù)可靠性。這對(duì)于產(chǎn)線膜厚測(cè)量設(shè)備的長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行至關(guān)重要,無需頻繁手動(dòng)標(biāo)定。

    • 【全封閉測(cè)量平臺(tái) · 安全可靠】F60-t配備帶運(yùn)動(dòng)聯(lián)鎖裝置的封閉式測(cè)量載物臺(tái),在測(cè)量過程中防護(hù)蓋鎖定,既保障操作人員安全,又有效隔絕環(huán)境光對(duì)光譜測(cè)量的干擾,確保產(chǎn)線復(fù)雜光照條件下的測(cè)量穩(wěn)定性。

    • 【SECS/GEM工廠自動(dòng)化 · 無縫集成】F60-t支持SECS/GEM工廠自動(dòng)化軟件協(xié)議,可直接與工廠的制造執(zhí)行系統(tǒng)(MES)和自動(dòng)化物料搬運(yùn)系統(tǒng)(AMHS)通訊,實(shí)現(xiàn)測(cè)量任務(wù)的自動(dòng)下發(fā)、數(shù)據(jù)自動(dòng)上傳和遠(yuǎn)程監(jiān)控。這是產(chǎn)線膜厚測(cè)試設(shè)備的必備能力,讓膜厚檢測(cè)真正融入自動(dòng)化生產(chǎn)流程。

    • 【全自動(dòng)晶圓傳輸 · 無人值守】F60-t可升級(jí)至全自動(dòng)化晶圓傳輸機(jī)型,配合晶圓盒自動(dòng)裝載和機(jī)械手自動(dòng)上下料,實(shí)現(xiàn)從晶圓加載、測(cè)量到數(shù)據(jù)輸出的全流程無人值守操作,滿足半導(dǎo)體量產(chǎn)工廠對(duì)自動(dòng)化膜厚測(cè)量設(shè)備的嚴(yán)苛需求。

    • 【工業(yè)級(jí)可靠性 · 易于維護(hù)】F60-t預(yù)裝軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī)開機(jī)即用,內(nèi)置在線診斷功能可實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)狀態(tài)并快速定位故障。24小時(shí)電話和郵件技術(shù)支持由經(jīng)驗(yàn)豐富的應(yīng)用工程師提供,確保產(chǎn)線設(shè)備的高可用性和快速故障恢復(fù)。

    F60-t與F50的區(qū)別

    F60-t和F50共享相同的核心光譜反射膜厚測(cè)量技術(shù),但它們面向完全不同的使用場(chǎng)景。F50主要服務(wù)于研發(fā)實(shí)驗(yàn)室和QC檢測(cè),注重手動(dòng)靈活操作;F60-t則專為量產(chǎn)工廠設(shè)計(jì),增加了一系列產(chǎn)線必需的功能。

    對(duì)比維度F50 自動(dòng)Mapping膜厚儀F60-t 自動(dòng)光反射膜厚儀
    產(chǎn)品定位實(shí)驗(yàn)室/研發(fā)用自動(dòng)Mapping測(cè)量系統(tǒng)產(chǎn)線/量產(chǎn)環(huán)境專用自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)
    核心測(cè)量技術(shù)相同——光譜反射法,R-Theta電動(dòng)載物臺(tái),Mapping自動(dòng)取點(diǎn)
    凹槽自動(dòng)檢測(cè)? 自動(dòng)識(shí)別晶圓方向
    自動(dòng)基線校準(zhǔn)? 內(nèi)置反射率標(biāo)準(zhǔn),自動(dòng)基線校正
    測(cè)量載物臺(tái)開放式全封閉式,帶運(yùn)動(dòng)聯(lián)鎖安全防護(hù)
    計(jì)算機(jī)外部PC(用戶自備或選配)預(yù)裝軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī),開機(jī)即用
    工廠自動(dòng)化不支持支持SECS/GEM協(xié)議,可升級(jí)全自動(dòng)晶圓傳輸
    典型應(yīng)用場(chǎng)景研發(fā)實(shí)驗(yàn)室、工藝開發(fā)、小批量QC檢測(cè)半導(dǎo)體晶圓廠量產(chǎn)線、大批量產(chǎn)線膜厚在線檢測(cè)

    典型應(yīng)用場(chǎng)景

    F60-t的核心價(jià)值在于“將高精度膜厚測(cè)量無縫融入量產(chǎn)流程”。它不僅具備與F50相同的測(cè)量性能,更通過產(chǎn)線專用功能實(shí)現(xiàn)了從人工操作到自動(dòng)化生產(chǎn)的跨越。以下是F60-t最典型的應(yīng)用場(chǎng)景:

    應(yīng)用領(lǐng)域產(chǎn)線測(cè)量場(chǎng)景描述典型測(cè)量對(duì)象
    半導(dǎo)體晶圓制造晶圓廠量產(chǎn)線上的薄膜厚度自動(dòng)化檢測(cè)。F60-t通過凹槽自動(dòng)定位快速找到測(cè)量起始點(diǎn),按預(yù)設(shè)Recipe自動(dòng)完成整片晶圓的多點(diǎn)Mapping,數(shù)據(jù)通過SECS/GEM上傳至工廠MES系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)SPC統(tǒng)計(jì)過程控制??杉芍磷詣?dòng)化物料搬運(yùn)系統(tǒng)中,完成全自動(dòng)晶圓膜厚檢測(cè)。光刻膠厚度、氧化物/氮化物薄膜、多晶硅層、介電層、CMP拋光后膜厚、藍(lán)寶石/SiC/GaN襯底上薄膜
    LCD/OLED顯示制造顯示面板產(chǎn)線上對(duì)玻璃基板進(jìn)行多點(diǎn)膜厚自動(dòng)化測(cè)量。F60-t可在產(chǎn)線環(huán)境中穩(wěn)定工作,封閉式載物臺(tái)不受車間光照影響,自動(dòng)基線校準(zhǔn)確保長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)運(yùn)行的數(shù)據(jù)一致性。支持對(duì)大面積基板進(jìn)行自動(dòng)多點(diǎn)膜厚檢測(cè)。液晶盒間隙、聚酰亞胺取向?qū)?、ITO/TCO透明導(dǎo)電膜、OLED各功能層
    光學(xué)鍍膜量產(chǎn)光學(xué)鍍膜生產(chǎn)線上的批量產(chǎn)品膜厚檢測(cè)。通過SECS/GEM接口與鍍膜設(shè)備聯(lián)動(dòng),可實(shí)現(xiàn)鍍膜后的自動(dòng)膜厚檢測(cè)和數(shù)據(jù)反饋,構(gòu)成閉環(huán)工藝控制,有效提升鍍膜良率和生產(chǎn)效率。硬質(zhì)涂層、增透膜/減反射膜、濾光片、介質(zhì)反射鏡
    晶圓背面減薄晶圓背面減薄工藝后的厚度測(cè)量。F60-t系列中的近紅外型號(hào)(如F60-t-NIR、F60-t-s1310等)可穿透硅基底直接測(cè)量減薄后晶圓的剩余厚度,為產(chǎn)線上的晶圓減薄工藝控制提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。減薄后硅片厚度、Taiko晶圓剩余厚度
    化合物半導(dǎo)體量產(chǎn)SiC、GaN、GaAs等化合物半導(dǎo)體晶圓量產(chǎn)線上的外延層厚度和基板厚度測(cè)量。F60-t的寬波長(zhǎng)覆蓋范圍可滿足不同材料體系的光學(xué)測(cè)量需求,自動(dòng)化功能確保大批量晶圓測(cè)量的一致性和效率。GaN外延層、SiC基板厚度、GaAs薄膜、LiTaO3基板
    生物醫(yī)學(xué)器件量產(chǎn)醫(yī)療器械量產(chǎn)線上的涂層厚度自動(dòng)化檢測(cè)。封閉式測(cè)量平臺(tái)確保潔凈室兼容性,非接觸測(cè)量方式不損傷產(chǎn)品,可進(jìn)行大批量產(chǎn)品的在線膜厚抽檢或全檢。藥物支架涂層、派瑞林涂層、導(dǎo)管親水涂層、生物傳感器薄膜

    測(cè)量原理

    F60-t采用與F50相同的光譜反射法進(jìn)行非接觸薄膜厚度測(cè)量。入射光在薄膜的上下表面發(fā)生反射,兩束反射光因光程差產(chǎn)生干涉光譜。通過分析干涉光譜的振蕩頻率,系統(tǒng)可在數(shù)秒內(nèi)精確計(jì)算出薄膜的厚度,同時(shí)推導(dǎo)出材料的折射率(n)和消光系數(shù)(k)。電動(dòng)R-Theta載物臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)至預(yù)設(shè)測(cè)量點(diǎn)位,配合自動(dòng)凹槽定位和基線校準(zhǔn),實(shí)現(xiàn)從晶圓加載到數(shù)據(jù)輸出的全流程自動(dòng)化。

    薄膜干涉測(cè)量原理示意圖

    F60-t系列選型指南

    F60-t系列不同型號(hào)的主要區(qū)別在于波長(zhǎng)范圍和厚度測(cè)量范圍。一般原則是:短波長(zhǎng)(紫外-可見光)適用于較薄的薄膜,長(zhǎng)波長(zhǎng)(近紅外)適用于更厚、更粗糙、透光性更差的薄膜。

    型號(hào)厚度范圍波長(zhǎng)范圍典型適用場(chǎng)景
    F60-t-UV5nm~40μm190~1100nm超薄薄膜產(chǎn)線測(cè)量(光刻膠、OLED功能層、超薄光學(xué)鍍膜)
    F60-t-UVX5nm~250μm190~1700nm寬光譜超薄膜至厚膜產(chǎn)線測(cè)量,覆蓋紫外到近紅外全波段
    F60-t20nm~70μm380~1050nm通用型產(chǎn)線膜厚測(cè)量(半導(dǎo)體工藝薄膜、聚合物涂層)
    F60-t-EXR20nm~250μm380~1700nm較厚膜層產(chǎn)線測(cè)量(光學(xué)鍍膜、硅層、MEMS結(jié)構(gòu)層)
    F60-t-NIR100nm~250μm950~1700nm近紅外產(chǎn)線測(cè)量(硅基底厚膜、化合物半導(dǎo)體)
    F60-t-XT0.2μm~450μm1440~1690nm紅外厚膜產(chǎn)線測(cè)量(硅膜厚度、晶圓背面減薄)
    F60-t-s13107μm~2mm1280~1340nm超厚膜產(chǎn)線測(cè)量(特定材料、硅基厚膜)
    F60-t-s155010μm~3mm1520~1580nm極厚膜產(chǎn)線測(cè)量(超厚硅片、大尺寸基板)

    不確定選哪個(gè)配置?聯(lián)系工程師為您推薦

    產(chǎn)品參數(shù)

    測(cè)量技術(shù)光譜反射法載物臺(tái)類型電動(dòng)R-Theta載物臺(tái)
    波長(zhǎng)范圍190nm~1700nm(視配置)光源鎢鹵素?zé)?/td>
    厚度測(cè)量范圍5nm~3mm(視配置)測(cè)量精度0.02nm
    光斑大小標(biāo)準(zhǔn)1.5mm(最小可達(dá)150μm)準(zhǔn)確度取較大者(1nm或0.2%)
    穩(wěn)定性0.05nm材料數(shù)據(jù)庫內(nèi)置130+種,可擴(kuò)展
    測(cè)量載物臺(tái)全封閉式,帶運(yùn)動(dòng)聯(lián)鎖安全防護(hù)計(jì)算機(jī)預(yù)裝軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī)
    自動(dòng)化功能自動(dòng)凹槽定位、自動(dòng)基線校準(zhǔn)、在線診斷
    工廠自動(dòng)化支持SECS/GEM協(xié)議(可選),可升級(jí)全自動(dòng)晶圓傳輸
    標(biāo)配附件4英寸、6英寸和200mm參考晶圓、TS-SiO2-4-7200厚度標(biāo)準(zhǔn)片、真空泵
    軟件FILMeasure(內(nèi)置130+材料庫,支持單層及多層膜分析)
    更多參數(shù)及定制配置請(qǐng)聯(lián)系我們獲取

    實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)展示

    F60-t薄膜厚度測(cè)量數(shù)據(jù)圖

    F60-t膜厚Mapping結(jié)果圖

    客戶評(píng)價(jià)

    “F60-t讓我們的晶圓量產(chǎn)膜厚檢測(cè)實(shí)現(xiàn)了真正的自動(dòng)化。凹槽自動(dòng)定位功能省去了人工對(duì)準(zhǔn)的步驟,封閉式測(cè)量平臺(tái)讓設(shè)備可以直接部署在產(chǎn)線旁邊而不用擔(dān)心環(huán)境光干擾。SECS/GEM協(xié)議與我們工廠的MES系統(tǒng)無縫對(duì)接,所有測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)上傳,SPC監(jiān)控實(shí)時(shí)在線,大幅降低了人工記錄和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)錄的錯(cuò)誤率?!?/span>

    ——某8英寸半導(dǎo)體晶圓代工廠 制造部

    “從F50升級(jí)到F60-t是我們產(chǎn)線自動(dòng)化改造的關(guān)鍵一步。自動(dòng)基線校準(zhǔn)功能讓我們不再需要每班手動(dòng)標(biāo)定設(shè)備,24小時(shí)連續(xù)運(yùn)行的數(shù)據(jù)一致性得到了顯著改善。工業(yè)計(jì)算機(jī)開機(jī)即用,配合在線診斷功能,設(shè)備維護(hù)量大幅減少?,F(xiàn)在一個(gè)操作員可以同時(shí)管理三臺(tái)F60-t,檢測(cè)效率提升了3倍以上?!?/span>

    ——某化合物半導(dǎo)體器件制造商 量產(chǎn)工藝部

    “F60-t的近紅外配置完美解決了我們晶圓背面減薄工藝的在線測(cè)厚需求。之前需要將晶圓拿到實(shí)驗(yàn)室用專用設(shè)備測(cè)量,現(xiàn)在F60-t直接部署在減薄機(jī)旁邊,機(jī)械手自動(dòng)上下料,幾分鐘就能完成整片晶圓的厚度Mapping。SECS/GEM接口將測(cè)量結(jié)果實(shí)時(shí)反饋給減薄設(shè)備,實(shí)現(xiàn)了閉環(huán)工藝控制,產(chǎn)品良率提升了約8%?!?/span>

    ——某功率半導(dǎo)體器件制造商 晶圓減薄工藝部

    常見問題 (FAQ)

    F60-t和F50的核心區(qū)別是什么?

    兩者的核心測(cè)量技術(shù)相同(光譜反射法、R-Theta電動(dòng)載物臺(tái)),但面向不同的使用場(chǎng)景。F50面向?qū)嶒?yàn)室和研發(fā)環(huán)境,注重手動(dòng)靈活操作;F60-t專為產(chǎn)線環(huán)境設(shè)計(jì),增加了凹槽自動(dòng)定位、自動(dòng)基線校準(zhǔn)、全封閉測(cè)量載物臺(tái)(帶運(yùn)動(dòng)聯(lián)鎖)、預(yù)裝軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī)和SECS/GEM工廠自動(dòng)化協(xié)議。如果您的需求是產(chǎn)線量產(chǎn)環(huán)境下的自動(dòng)化膜厚測(cè)量,F(xiàn)60-t是唯一選擇;如果是實(shí)驗(yàn)室研發(fā)或小批量QC檢測(cè),F(xiàn)50性價(jià)比更高。

    F60-t的SECS/GEM協(xié)議具體能實(shí)現(xiàn)什么功能?

    SECS/GEM是半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的工廠自動(dòng)化通訊協(xié)議。通過該協(xié)議,F(xiàn)60-t可與工廠的制造執(zhí)行系統(tǒng)(MES)和自動(dòng)化物料搬運(yùn)系統(tǒng)(AMHS)進(jìn)行通訊,實(shí)現(xiàn):測(cè)量任務(wù)的自動(dòng)下發(fā)(MES→F60-t)、測(cè)量數(shù)據(jù)的自動(dòng)上傳(F60-t→MES)、設(shè)備狀態(tài)的遠(yuǎn)程監(jiān)控、SPC統(tǒng)計(jì)過程控制的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)支持。這使得F60-t可以作為產(chǎn)線膜厚檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)節(jié)點(diǎn),無縫融入半導(dǎo)體工廠的自動(dòng)化生產(chǎn)流程。

    F60-t的封閉式測(cè)量載物臺(tái)有什么好處?

    封閉式測(cè)量載物臺(tái)有三大好處:一是安全防護(hù)——運(yùn)動(dòng)聯(lián)鎖裝置在測(cè)量過程中鎖定防護(hù)蓋,保護(hù)操作人員安全;二是環(huán)境光隔絕——產(chǎn)線車間的照明環(huán)境復(fù)雜,全封閉設(shè)計(jì)有效隔絕環(huán)境光對(duì)光譜測(cè)量的干擾,確保數(shù)據(jù)可靠性;三是潔凈室兼容——封閉式結(jié)構(gòu)減少顆粒物進(jìn)入測(cè)量區(qū)域,更適合潔凈室環(huán)境中的自動(dòng)化膜厚測(cè)量。

    F60-t可以升級(jí)為全自動(dòng)晶圓傳輸嗎?

    可以。F60-t支持升級(jí)至全自動(dòng)化晶圓傳輸機(jī)型,配合晶圓盒自動(dòng)裝載和機(jī)械手自動(dòng)上下料,實(shí)現(xiàn)從晶圓加載、測(cè)量到數(shù)據(jù)輸出的全流程無人值守操作。這一升級(jí)對(duì)于追求高度自動(dòng)化的半導(dǎo)體量產(chǎn)線尤為重要,可與工廠自動(dòng)化物料搬運(yùn)系統(tǒng)(AMHS)對(duì)接,進(jìn)一步提升產(chǎn)線膜厚測(cè)量效率。

    F60-t系列不同型號(hào)如何選型?

    F60-t系列選型主要根據(jù)波長(zhǎng)范圍和厚度測(cè)量范圍:UV(紫外)配置適合超薄膜測(cè)量(光刻膠、OLED膜層),標(biāo)準(zhǔn)配置適合通用半導(dǎo)體工藝薄膜,EXR配置覆蓋更寬光譜范圍,NIR/XT/s1310/s1550等近紅外配置適合厚膜、硅基底和特殊材料。一般原則是:薄膜越薄,需要越短的波長(zhǎng);膜層越厚、越粗糙、越不透明,需要越長(zhǎng)的波長(zhǎng)。建議聯(lián)系我們的應(yīng)用工程師,根據(jù)您的具體薄膜材料和厚度范圍獲取專業(yè)選型建議。

    F60-t的維護(hù)和校準(zhǔn)復(fù)雜嗎?

    F60-t的維護(hù)設(shè)計(jì)充分考慮了產(chǎn)線環(huán)境的需求。自動(dòng)基線校準(zhǔn)功能使用內(nèi)置反射率標(biāo)準(zhǔn)片,可在每次測(cè)量前自動(dòng)完成光譜基線校正,無需人工干預(yù)。設(shè)備標(biāo)配4英寸、6英寸和200mm參考晶圓及TS-SiO2-4-7200厚度標(biāo)準(zhǔn)片,便于日常校準(zhǔn)驗(yàn)證。內(nèi)置在線診斷功能可實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)狀態(tài),快速定位故障。此外,每個(gè)系統(tǒng)標(biāo)配周一至周五24小時(shí)電話、郵件和在線技術(shù)支持,由經(jīng)驗(yàn)豐富的應(yīng)用工程師提供幫助。

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